{"ok":true,"nota":{"id":"fea773e161ac5ac2","slug":"tesis-sobre-como-testear-con-mas-precision-los-circuitos-analogicos-y--fea773","titulo":"Tesis sobre cómo testear con más precisión los circuitos analógicos y de radiofrecuencia","resumen":"Una tesis doctoral en francés propone mejorar un método indirecto para verificar el funcionamiento de circuitos analógicos y de radiofrecuencia, buscando mayor exactitud y robustez. El problema de fondo es que las frecuencias de operación son cada vez más altas.","fuente":"hal","fuenteNombre":"HAL · Ciencia abierta","color":"#b06000","autor":"Ayari, Haithem","url":"https://theses.hal.science/tel-00998677","imagen":"/hoy/portada/fea773e161ac5ac2","tema":"tecnologia","subtemas":["testeo de circuitos","radiofrecuencia","electronica analogica","control de calidad","ingenieria de semiconductores"],"entidades":["HAL"],"formato":"dato","entretenimiento":false,"pubTs":"2026-10-23T00:00:00.000Z","indexTs":"2026-10-23T12:03:18.527Z","hash":"7f7cebb2ce0a90e9c955d65cd623133ebbd62e24c98358ea7b22e480921aab20","tsa":{"time":"Oct 23 12:04:20 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"stats":{"views":0,"likes":0,"clicks":0,"dwell":0},"tipo":"normal","registro":"hallazgo","porQueImporta":"Cada celular, auto conectado o router pasa por controles de calidad que dependen de estos circuitos, y testearlos es caro y lento cuando las frecuencias suben. Un método indirecto que sea más preciso puede bajar costos de fabricación y detectar fallas antes de que lleguen al usuario. Para un lector común, es el tipo de mejora que termina en productos más baratos y confiables, aunque el trabajo sea de laboratorio y de nicho.","quienFirma":"HAL (repositorio abierto de publicaciones científicas francesas)","confianza":"tesis","consulta":null},"sello":{"hash":"7f7cebb2ce0a90e9c955d65cd623133ebbd62e24c98358ea7b22e480921aab20","sello":"9342a9d8ccef02d19ef16dc8947b543f7c15654e19fbf6411db57860de18c01d","beacon":{"drand":{"cadena":"8990e7a9aaed2ffed73dbd7092123d6f289930540d7651336225dc172e51b2ce","ronda":6577534,"aleatorio":"c9e07c4a7baaade0e8acc56f64536cbb18d3ad1e3d8c1ae5596009491ca1c705","tiempo":"2026-10-23T12:04:00.000Z"},"nist":{"cadena":2,"pulso":1995961,"salida":"F41B5D0D554B9AA93D86596521336D547B043E4F52A3C280F10F60EAE511ED1743D3E56670D4E53EB431734AC5B1B8CB5DCF96D1DB26F562D058604979415129","tiempo":"2026-10-23T12:03:00.000Z"},"noAntes":"2026-10-23T12:04:00.000Z"},"verificacion":{"drand":true,"nist":true},"tsa":{"time":"Oct 23 12:04:20 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"original":{"titulo":"Tesis: Indirect Analog / RF IC testing : Accuracy & Robustness improvements","descripcion":"Contrairement aux circuits numériques qui peuvent comporter plusieurs centaines de million de transistors, les circuits analogiques et radio fréquence sont généralement constitués d’un nombre réduit d’éléments ne dépassant que rarement la centaine de transistors. Malgré tout, le test de ces circuits est un problème particulièrement critique. Conventionnellement, ce test se base sur la mesure des performances du circuit et la comparaison des résultats obtenus aux spécifications décrites dans le cahier des charges. Cette approche est considérée, de longue date, l’approche la plus efficace mais aujourd’hui elle souffre de sérieux inconvénients. Tout d'abord, elle nécessite la génération et la capture des signaux de test à la fréquence de fonctionnement du circuit sous test. Comme les fréquences de fonctionnement des circuits analogique et radio fréquence sont en augmentation, il devient dif","pubDate":"2026-10-23","url":"https://theses.hal.science/tel-00998677"},"indexado":"2026-10-23T12:03:18.527Z"}}