{"ok":true,"nota":{"id":"527c9f3e1b2ceafe","slug":"una-guia-practica-para-corregir-errores-de-forma-en-mapas-quimicos-tri-527c9f","titulo":"Una guía práctica para corregir errores de forma en mapas químicos tridimensionales de materiales","resumen":"Los autores explican cómo corregir distorsiones causadas por la rugosidad de la superficie en mediciones de espectrometría de masas tridimensional. Describen métodos que van desde la reconstrucción solo con datos hasta la combinación con microscopía de fuerza atómica.","fuente":"arxiv-materia","fuenteNombre":"arXiv · Materiales","color":"#8b5a2b","autor":"Jacob Shusterman","url":"https://arxiv.org/abs/2610.28593v1","imagen":"/hoy/portada/527c9f3e1b2ceafe","tema":"ciencia","subtemas":["espectrometría de masas","microscopía","ciencia de materiales","análisis de superficies"],"entidades":["arXiv"],"formato":"dato","entretenimiento":false,"pubTs":"2026-10-20T17:43:23.000Z","indexTs":"2026-10-21T10:34:42.643Z","hash":"7b2b65f9ecfcc1eb89b1b8cd8b13a38819ecc11fae48109231c0b704bb2d046b","tsa":{"time":"Oct 21 10:35:41 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"stats":{"views":0,"likes":0,"clicks":0,"dwell":0},"tipo":"normal","registro":"hallazgo","porQueImporta":"Esta técnica permite ver qué elementos químicos hay en una muestra y en qué capas, algo clave para desarrollar baterías, semiconductores y nuevos materiales. Sin corregir las distorsiones, los mapas pueden mostrar patrones que no existen. Para el lector común, es un trabajo muy técnico, pero detrás de muchos productos que usa a diario hay mediciones de este tipo. Un error de interpretación en el laboratorio puede terminar en un material que no hace lo que promete.","quienFirma":"arXiv (materiales)","confianza":"preprint","consulta":null},"sello":{"hash":"7b2b65f9ecfcc1eb89b1b8cd8b13a38819ecc11fae48109231c0b704bb2d046b","sello":"933cb927507d7a2b9ce55cc22dc591c33025828d8ae294807a337947833c4faa","beacon":{"drand":{"cadena":"8990e7a9aaed2ffed73dbd7092123d6f289930540d7651336225dc172e51b2ce","ronda":6571596,"aleatorio":"2c36e18ae584b00d9a77fc6ee91bac2d1e017f0e506ff9533e9d65bd838a5467","tiempo":"2026-10-21T10:35:00.000Z"},"nist":{"cadena":2,"pulso":1993004,"salida":"23161ED84C8333D8735666F0B82E202695897452E701B068B63EF76A2E59D22F1B819FE2CF27AC06B5894483118E32D36F4246E7C1D82B4789A57D7588B065D3","tiempo":"2026-10-21T10:35:00.000Z"},"noAntes":"2026-10-21T10:35:00.000Z"},"verificacion":{"drand":true,"nist":true},"tsa":{"time":"Oct 21 10:35:41 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"original":{"titulo":"Correcting topographic artifacts in three-dimensional ToF-SIMS: A practical guide from data-only reconstruction to correlative AFM","descripcion":"","pubDate":"2026-10-20T17:43:23Z","url":"https://arxiv.org/abs/2610.28593v1"},"indexado":"2026-10-21T10:34:42.643Z"}}