{"ok":true,"nota":{"id":"4be28b761b3ced0a","slug":"un-solo-lente-permite-ver-la-forma-y-la-quimica-de-un-material-con-ray-4be28b","titulo":"Un solo lente permite ver la forma y la química de un material con rayos X blandos","resumen":"Investigadores de Alemania, Suiza y Japón probaron que un único elemento óptico llamado placa de zona de reflexión puede tomar imágenes con rayos X blandos y, a la vez, mapear las propiedades electrónicas del material. Hasta ahora esto requería instrumentos separados.","fuente":"phys","fuenteNombre":"Phys.org","color":"#2b5c8a","autor":"","url":"https://phys.org/news/2026-10-optical-element-combines-soft-ray.html","imagen":"https://scx1.b-cdn.net/csz/news/tmb/2026/single-optical-element-1.jpg","tema":"ciencia","subtemas":["rayos x","óptica","materiales","instrumental científico","espectroscopía"],"entidades":["Alemania","Suiza","Japón"],"formato":"dato","entretenimiento":false,"pubTs":"2026-10-26T20:20:11.000Z","indexTs":"2026-10-26T20:24:19.025Z","hash":"36b6068e3506743f07eb1c2b1e3d58f759d84427568fc0fbe0555ef7a05914d1","tsa":{"time":"Oct 26 20:24:35 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"stats":{"views":0,"likes":0,"clicks":0,"dwell":0},"tipo":"normal","registro":"hallazgo","porQueImporta":"Con un solo dispositivo se puede saber dónde están las estructuras de un material y cómo cambian sus propiedades electrónicas. Esto puede achicar y abaratar los equipos que se usan para desarrollar baterías, semiconductores y otros materiales que después llegan a la industria y a los laboratorios de todo el mundo. El estudio se probó en condiciones de laboratorio y todavía falta ver cómo funciona en instrumentos de uso cotidiano.","quienFirma":"Universidades de Alemania, Suiza y Japón","confianza":"revisado","consulta":null},"sello":{"hash":"36b6068e3506743f07eb1c2b1e3d58f759d84427568fc0fbe0555ef7a05914d1","sello":"c7800fb3d2a55c7efa32ffb0ee65b3220355f430ecee61fda25ab44367f1106b","beacon":{"drand":{"cadena":"8990e7a9aaed2ffed73dbd7092123d6f289930540d7651336225dc172e51b2ce","ronda":6587174,"aleatorio":"cc21ab4e02a03f2e4b1f90b43f4122a76df8f624c96ed3ded20cec91b8735498","tiempo":"2026-10-26T20:24:00.000Z"},"nist":null,"noAntes":"2026-10-26T20:24:00.000Z"},"verificacion":{"drand":true,"nist":null},"tsa":{"time":"Oct 26 20:24:35 2026 GMT","provider":"freetsa.org","sobre":"sello"},"original":{"titulo":"Single optical element combines soft X-ray imaging and spectroscopy","descripcion":"An international research team from Germany, Switzerland and Japan has demonstrated in a recent study that a single reflection zone plate (RZP) can perform both soft X-ray imaging and resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) mapping. The approach could simplify future instruments that need to determine both where structures are located in a material and how their electronic properties vary.","pubDate":"Mon, 26 Oct 2026 16:20:11 EDT","url":"https://phys.org/news/2026-10-optical-element-combines-soft-ray.html"},"indexado":"2026-10-26T20:24:19.025Z"}}